Chroma 3160  終端測試分類機是一系列適合量產、高產出、多平行測試站點的高速IC測試分類機。此系列分類機運用Pick & Place技術，能夠配合多種封裝類型并按照測試結果將它們排序分類予分料盤中。其高效率的模組化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下，機臺量測之重復性，并有助于增加機臺使用之穩(wěn)定性與維護之便利性。此外，其簡潔的機臺設計更可節(jié)省機臺于測試廠之占地面積，幫助客戶大幅降低生產成本。3160F則可依其待測物 (指紋辨識芯片) 的不同需求，修改測試條件及程序。

Chroma 3160  終端測試分類機的特性：

• 9K pcs 產能 (Model 3160)
• 彈性的矩陣測試及指紋圖形測試 (3160F)
• 1~10 Kgf 微型接觸力 (3160F)
• 1 x 4 DUT架構 (3160/3160F)
• 空載盤自動堆迭 (選購) (3160F)
• 可設定的待測物間距
• 可側邊安裝測試機
• 可編程氣動式阻尼器控制，以減少接觸力的影響響
• 智慧型IC殘留檢測
• 測試良率控制
• 通用治具
• 進階版ESD標準